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泰思肯MIRA通用分析型高分辨場發(fā)射掃描電鏡 TESCAN MIRA 推出的第四代高性能掃描電子顯微鏡，配置有高亮度肖特基場發(fā)射電子槍，在TESCAN 的 Essence™ 操作軟件的同一個窗口中實現(xiàn)了 SEM 成像和實時元素分析。這種結(jié)合大大簡化了從樣品中獲取形貌和元素數(shù)據(jù)的過程，從而使得MIRA 成為質(zhì)量控制、失效分析和實驗室常規(guī)材料檢測的有效分析解決方案。
泰思肯 新一代超高分辨場發(fā)射掃描電鏡 全新設(shè)計的CLARA超高分辨場發(fā)射掃描電鏡可以提供的圖像質(zhì)量，具有強大的擴展分析能力，能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求，不僅適用于的納米分析應(yīng)用，也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗。
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